《GB/T 18210-2000晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量》介绍两种可以采用的现场测量方法，两种方法使用GB/T6495.4给出的程序，对测得的光伏I-V特性进行温度和辐照度修正:
1、方法A由直接的温度测量确定方阵有效结温TJ；
2、方法B由不同辐照度下记录到的子方阵开路电压Voc数据推导出有效结温TJ。
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